温度冲击试验

温度冲击试验

温度冲击试验常被称作热冲击试验或者温度循环、高低温冷热冲击试验。温度冲击是指装备周围大气温度的急剧变化,温度变化率大于10度/min,即为温度冲击。
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温度冲击试验项目介绍

温度冲击试验常被称作热冲击试验或者温度循环、高低温冷热冲击试验。温度冲击是指装备周围大气温度的急剧变化,温度变化率大于10度/min,即为温度冲击。

温度冲击试验范围

电子通信类:手机、射频器、电子通信元器件等,PCB、PCBA;
电器类:家电、灯具、变电器等各类家电电器设备、仪器仪表、医疗器械;
计算机类:电脑、显示屏、主机、电脑元器件、医疗设备等精密仪器等;
道路交通类:道路车辆电子电气设备、轨道交通机车车辆设备与装置、汽车零部件等;
其他:包装箱、运输设备等。

温度冲击试验标准

IEC 60068-2-14:2009《环境试验第2~14部分:试验方法试验N:温度变化》
GB/T 2423.22-2012《环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化》
MIL-STD-810F 方法503.4:温度冲击试验
GJB 150.5A-2009 《军用装备实验室环境试验方法第5部分:温度冲击试验》
MIL-STD-202G 方法107G:热冲击试验
GJB 360B-2009 《电子及电气元件试验方法》中的方法107温度冲击试验
MIL-STD-883, Method 1010, Temperature Cycling
JESD22-A104D, Temperature Cycling
JIS C 680068-2-14:2011(替代JIS C0025:1988)


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